L4-LEPTOSKOP 2040 通用型膜层测厚仪

订货号：87.21.13.09-1064

 

通用型膜层测厚仪的特点：

• 多功能，适用范围广，特别适合于进行现场测厚

• 可选择使用各种类型的检测探头，以适应各种测厚目的

• 用于铁基和非铁基材料的智能型探头

• 无需任何校验即可立即进行测厚

• 操作菜单化，极其方便简单

• 多种与检测目的相适应的校验方法

• 可在未知膜层上进行校验

• 可存贮最后一次校验结果

• 可设定界限值，并可对此进行是监控

• 随时可对检测结果进行统计

• 本仪器具有可自由划分的存贮区（带有各自的检测参数）和检测结果存贮功能（带有相应的校验结果），这就大大方便了在不同工件上进行的各种测量

• 配有与打印机和计算机连接的RS232C接口

• 具有使用方便的计算机软件；用于数据接收、编写检测报告和统计评定，此软件可在任何IBM兼容机（如PC机 膝上型和笔记本型等）上运行