谷物图像自动分析系统 型号:TXSB-GE-XP

货号:

产品说明： 一、仪器用途 TXSB-GE-XP谷物品质图像分析系统是应用图像自动分析系统测定谷物杂质和不完善粒的检测设备。适用于各类谷物的检测。该系统采用了计算机技术与图 像处理技术，计算机中内置图像采集卡，图像采集系统由CCD摄像机、进料机构、驱动机构和出料机构组成。采用基于BP网络的分类算法，达到对于标准麦、破 损麦和异种粮霉变粮的识别准确率分别为98%、96%和100%。 二、工作原理 （1） 被测样品从进料机构进料，在振动机构的作用下数粒，经进料导槽、限位板到达检测盘。 （2） 检测盘绕轴旋转，用于载谷物一共摄像机采集图像。 （3） 通过计算机图像采集系统将被检测的鼓舞图像进行数字化，并进行图像预处理，自动轮廓分析，自动色彩分析，自动模式识别，最后将分析与识别的结果输出。系统设立了三个谷物检测模块，分析针对性强。 （4） 出料机构由出料挡板、落料杯组成，作用是实现谷物籽粒的自动回收。 三、检测内容及参数 （1） 稻谷：未熟粒、虫蚀粒、病斑粒、生芽粒、霉变粒。识别准确率≥95% （2） 小麦：破损粒、虫蚀粒、病斑粒、生芽粒、霉变粒。识别准确率≥95% （3） 玉米：破损粒、虫蚀粒、病斑粒、生芽粒、霉变粒、热损伤粒。识别准确率≥95% （4） 大米：垩白粒率、粒型、黄粒米、垩白度。识别准确率≥95% 四、技术服务 1． 操作人员免费长期培训。为用户指导、代建专用产品数据库。 2．免费提供网上软件校正、升级和数据库更新。 3．中国农机院机电所长期提供技术支持。

产品图片